氮化镓(GaN)同质外延:推动高性能Micro-LED发展

氮化镓(GaN)同质外延:推动高性能Micro-LED发展

        III族氮化物半导体凭借其宽的直接带隙、高发光效率以及优异的热、机械和化学稳定性,已成为紫外至可见光范围内光电器件的理想材料。其中,氮化镓(GaN)因其卓越的光学和电学性能,受到了学术界和工业界的高度关注,特别是在发光二极管(LED)领域的应用中,GaN展现出了极大的潜力。近年来,GaN的同质外延生长技术因其能够显著提升材料质量而备受研究者青睐。研究表明,同质外延可以实现极窄的光致发光(PL)线宽,并将位错密度降低多达六个数量级。这得益于同质外延衬底与外延层之间的晶体结构、晶格参数和热膨胀系数的高度匹配,从而实现了二维逐层生长,并抑制了位错的产生。可提供用于蓝光和绿光LED制造的GaN-on-GaN同质外延片,具体规格如下:

GaN同质外延

1. GaN-on-GaN Micro-LED外延规格

产品 GaN-on-GaN Micro-LED外延片(蓝、绿光)
直径 2、4英寸
衬底
类型 N型自支撑GaN
晶向 c面(0001)偏向M轴0.55±0.15°
表面处理 单面或双面抛光
外延层
结构 pGaN/MQWs/nGaN
厚度 3.2±0.5um
表面粗糙度 <0.5nm
位错密度 5*107cm-2
颗粒(>20um) <5pcs
波长 蓝光:465±10nm;绿光:525±10nm
波长FWHMs 蓝光:<20nm;绿光:<35nm

 

2. 蓝宝石基与GaN基LED的性能比较

        相关研究显示,与蓝宝石基LED相比,GaN-on-GaN LED的位错密度显著降低(如图1所示),达到比GaN-on-Sapphire低三个数量级的水平。通过时间分辨光致发光(TRPL)测试,GaN-on-GaN结构中的载流子寿命明显延长,量子限制斯塔克效应(QCSE)显著降低。这表明,同质外延生长显著改善了材料的光学和电学性能。

 图1 GaN-on-Sapphire与GaN-on-GaN LED外延片缺陷密度对比

图1 GaN-on-Sapphire与GaN-on-GaN LED外延片缺陷密度对比

        在电学特性方面,GaN-on-GaN LED展现出以下突出性能:

  • 理想因子和串联电阻显著降低;
  • 电致发光(EL)光谱表现更佳,FWHM(半峰宽)更窄;
  • EQE(外量子效率)衰减显著减少。

        此外,研究通过对不同衬底上蓝光LED的IQE(内量子效率)和EL光谱进行拟合分析发现,蓝宝石基LED的深能级陷阱辅助复合效应更为显著,这与外延层的位错密度密切相关。而在GaN-on-GaN LED中,因位错密度更低,其器件性能大幅提升。

        在显示应用领域,基于GaN-on-GaN的微显示器表现出更高的亮度、更好的显示均匀性和更窄的间距,这对于AR(增强现实)和VR(虚拟现实)显示器至关重要。高质量的同质外延片不仅优化了光电性能,也为高亮度、小间距和高分辨率显示器的设计奠定了基础。

 

        更多GaN外延片信息或疑问,请来邮咨询:vp@honestgroup.cn

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